خرید ایبوک An Introduction to Logic Circuit Testing

برای دانلود ایبوک An Introduction to Logic Circuit Testing و خرید کتاب مقدمه ای بر آزمایش مدار منطقی بر روی کلید خرید در انتهای صفحه کلیک کنید.پس از اتصال به درگاه پرداخت هزینه و تکمیل مراحل خرید ، لینک دانلود کتاب ایمیل می شود.این ایبوک در فرمت PDF اورجینال و به زبان انگلیسی ارسال می شود.نسخه الکترونیکی کتاب قابلیت کپی برداری copy و Paste دارد.

در صورتی که نیاز به دانلود هر کتابی از آمازون یا گوگل بوک دارید، فقط کافیست ادرس اینترنتی کتاب را از سایت www.amazon.com و یا books.google.com برای ما ارسال کنید (راههای ارتباطی در صفحه تماس با گیگاپیپر ). پس از بررسی، هزینه ان اعلام می شود. پس از واریز نسخه الکترونیکی ارسال می شود.

ایبوک An Introduction to Logic Circuit Testing

An Introduction to Logic Circuit Testing (Synthesis Lectures on Digital Circuits and Systems)
by Parag K. Lala (Author)

ISBN-10 : 1598293508
ISBN-13 : 978-1598293500

Download Please Contact Us :

Price : 10$

ادرس اینترنتی کتاب An Introduction to Logic Circuit Testing

https://www.morganclaypool.com/doi/pdf/10.2200/S00149ED1V01Y200808DCS017

دانلود رایگان کتاب An Introduction to Logic Circuit Testing

برای اطمینان از کیفیت ایبوک  ، چند صفحه ابتدایی ان به صورت رایگان قرار داده شده است.

دانلود کتاب An Introduction to Logic Circuit Testing

An Introduction to Logic Circuit Testing provides a detailed coverage of techniques for test generation and testable design of digital electronic circuits/systems. The material covered in the book should be sufficient for a course, or part of a course, in digital circuit testing for senior-level undergraduate and first-year graduate students in Electrical Engineering and Computer Science. The book will also be a valuable resource for engineers working in the industry. This book has four chapters. Chapter 1 deals with various types of faults that may occur in very large scale integration (VLSI)-based digital circuits. Chapter 2 introduces the major concepts of all test generation techniques such as redundancy, fault coverage, sensitization, and backtracking. Chapter 3 introduces the key concepts of testability, followed by some ad hoc design-for-testability rules that can be used to enhance testability of combinational circuits. Chapter 4 deals with test generation and response evaluation techniques used in BIST (built-in self-test) schemes for VLSI chips. Table of Contents: Introduction / Fault Detection in Logic Circuits / Design for Testability / Built-in Self-Test / References

دانلود ایبوک مقدمه ای بر آزمایش مدار منطقی

مقدمه ای بر آزمایش مدار منطقی ، پوشش کاملی از تکنیک های تولید آزمون و طراحی قابل آزمایش مدارها / سیستم های الکترونیکی دیجیتال را فراهم می کند. مطالب مندرج در این کتاب باید برای یک دوره ، یا بخشی از یک دوره ، در تست مدار دیجیتال برای دانشجویان مقطع کارشناسی ارشد و سال اول تحصیلات تکمیلی در رشته های مهندسی برق و علوم کامپیوتر کافی باشد. این کتاب همچنین یک منبع ارزشمند برای مهندسان شاغل در صنعت خواهد بود. این کتاب چهار فصل دارد. فصل 1 به انواع گسلهایی می پردازد که ممکن است در مدارهای دیجیتال مبتنی بر یکپارچه سازی مقیاس بسیار بزرگ (VLSI) رخ دهد. در فصل 2 مفاهیم اصلی کلیه تکنیک های تولید آزمون مانند افزونگی ، پوشش گسل ، حساس سازی و عقبگرد معرفی شده است. فصل 3 مفاهیم اصلی آزمون پذیری را معرفی می کند ، و به دنبال آن برخی قوانین خاص برای آزمایش قابل آزمایش است که می تواند برای افزایش تست پذیری مدارهای ترکیبی استفاده شود. فصل 4 مربوط به تولید آزمون و تکنیک های ارزیابی پاسخ است که در طرح های BIST (خودآزمایی داخلی) برای تراشه های VLSI استفاده می شود. فهرست مطالب: مقدمه / تشخیص خطا در مدارهای منطقی / طراحی برای تست پذیری / خودآزمایی داخلی / منابع